產(chǎn)品展示

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  精密lcr測(cè)試儀3504-40

  精密lcr測(cè)試儀?高速測(cè)量2ms?能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷?對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試?3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

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  LCR測(cè)試儀3504-50

  LCR測(cè)試儀 ?高速測(cè)量2ms ?能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ?對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ?3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

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  LCR測(cè)試儀3504-60

  LCR測(cè)試儀 ?高速測(cè)量2ms ?能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ?對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ?3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

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  阻抗分析儀IM7585

  阻抗分析儀 ?測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz ?測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ?測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ?基本精度：±0.65% rdg. ?緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

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  阻抗分析儀IM7583

  阻抗分析儀 ?測(cè)量頻率：1MHz~600MHz ?測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ?基本精度：±0.65% rdg. ?緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

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  阻抗分析儀IM7581

  阻抗分析儀 ?測(cè)量頻率1MHz~300MHz ?測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

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  阻抗分析儀IM7580A

  阻抗分析儀 ?測(cè)量頻率1MHz~300MHz ?測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

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  阻抗分析儀IM3590

  阻抗分析儀 ?適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號(hào)源 ?1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ?可測(cè)量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ?Z快2ms的高速測(cè)量，實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化 ?基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng) 適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻（LCR）測(cè)量

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